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涂层测 厚仪的选型方法

2018-05-25

涂层测厚仪的选型方法
涂层测 厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
涂镀层 测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制 和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
涂层测厚仪选型方法
用户可 以根据测量的需要选用不同的测厚仪,磁性测 厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米,这类仪 器又分探头与主机一体型,探头与主机分离型,前者操作便捷,后者适 用于测非平面的外形。更厚的 致密材质材料要用超声波测厚仪来测,测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法 测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金,银等金属的厚度。
常规型
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关 国家和国际标准中称为覆层(coating)。
覆层厚 度测量已成为加工工业、表面工 程质量检测的重要一环,是产品 达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出 口商品和涉外项目中,对覆层 厚度有了明确的要求。
覆层厚 度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测 量法及涡流测量法等。这些方 法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线和β射线法 是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者 必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法 适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法 仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步,特别是 近年来引入微机技术后,采用磁 性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化 的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用zui广泛的测厚仪器。
采用无 损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大 量的检测工作经济地进行。

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